Dal monitoraggio ambientale alle applicazioni biomedicali
UNA SCUOLA DEDICATA AI SENSORI
Al via da lunedì 8 novembre presso l'Aula Seminari della Stecca.
Partirà lunedì mattina alle ore 9,00 presso l'Aula Seminari della Stecca la Scuola di "Metodologie di preparazione e caratterizzazione di materiali e dispositivi per la sensoristica" organizzata congiuntamente da SISM (Società Italiana di Scienze Microscopiche) e da AISEM (Associazione Italiana Sensori e Microsistemi).
L'approccio sarà interdisciplinare e discuterà le nozioni fondamentali di fisica, chimica, biologia, ingegneria, scienza dei materiali, necessarie per uno studio esaustivo dei materiali e dei dispositivi per la realizzazione di sensori. La scuola vedrà la partecipazione, in qualità di docenti, dei maggiori esperti nazionali nel settore dei sensori, sia per quanto riguarda la sintesi dei materiali, sia per la loro caratterizzazione e per la realizzazione dei dispositivi.
Le lezioni teoriche partiranno da un sintetico studio delle tecniche di sintesi di materiali micro e nano strutturati, e delle loro proprietà, per giungere allo studio delle varie tecniche di caratterizzazione (ottiche, elettriche, morfologico/strutturali), allo studio dei meccanismi di trasduzione del segnale, all'esame di sensori basati su materiali polimerici e su biomateriali. Si passerà poi allo studio delle tecniche per la realizzazione e la caratterizzazione di dispositivi (sensori chimici, fisici e biologici). Verranno anche illustrati brevemente i sistemi ed i microsistemi per la raccolta e l'analisi del segnale, e verranno illustrate le principali applicazioni nel campo del monitoraggio ambientale, delle applicazioni biomedicali, del controllo di qualità.
Le esercitazioni e le dimostrazioni permetteranno ai vari gruppi di venire a contatto con le principali tecniche di sintesi e caratterizzazione di materiali e dispositivi, nonché di progettazione di semplici microsistemi. Si effettueranno esercitazioni e sessioni dimostrative su sintesi dei materiali, caratterizzazione ottica, caratterizzazione elettrica, progettazione e simulazione dispositivi, caratterizzazione morfologico/strutturale (AFM, SEM), preparazione e caratterizzazione strutturale di dispositivi (FIB/TEM).
Il professor Massimo Catalano, Vicepresidente della SISM, è disponibile per interviste, per spiegare ai colleghi giornalisti l'importanza dei sensori |
